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 MK.1 低腳數(shù)靜電放電和閂鎖測試系統(tǒng)
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MK.1 低腳數(shù)靜電放電和閂鎖測試系統(tǒng)

確保您的低管腳數(shù)微控制器可承受任何人體模型 (HBM) 和機器模型 (MM) 靜電放電事件。Thermo Scientific? MK.1 低管腳數(shù)靜電放電和閂鎖測試系統(tǒng)是一款占地面積小且易于使用的靜電放電模擬器,適用于對高達 256 管腳數(shù)的器件進行高產(chǎn)量測試。系統(tǒng)按照業(yè)內(nèi)對滯后脈沖的相關(guān)要求、JEDEC 標準及其他要求執(zhí)行測試。因此,不管是什么樣的最終應(yīng)用,無論是小型家電、消費類保健品、汽車用電子設(shè)備,還是功率晶體管,都可以確保您的組件符合法規(guī)標準。

訂購熱線:18502873311
產(chǎn)品詳情

    作為一種高效且經(jīng)濟實惠的整套系統(tǒng),MK.1 低管腳數(shù)靜電放電和閂鎖測試系統(tǒng)可直接替代 KeyTek ZapMaster 系統(tǒng)。MK.1 系統(tǒng)可執(zhí)行符合業(yè)內(nèi)針對滯后脈沖相關(guān)要求的 ESD 測試。本系統(tǒng)還提供高阻抗管腳測試功能,通過在加壓過程中采用 10K 分流器,可消除 ESD 放電之前產(chǎn)生的任何預(yù)放電電壓斜升現(xiàn)象。

    測試器件的管腳數(shù)高達 256:
    可提供配置有 64、128、192 或 256 個管腳的系統(tǒng);可現(xiàn)場升級。其他功能,更快速的通量,多點測試。

    基于繼電器的操作:
    支持比自動化測試儀快 5 到 10 倍的測試速度 

    用于改進閂鎖功能的電源定序:
    更多的應(yīng)用靈活性可滿足針對集成式系統(tǒng)級芯片設(shè)計的更為復(fù)雜測試的需求 

    事件觸發(fā)器輸出:
    使用定制的范圍觸發(fā)器功能對設(shè)置分析進行管理。使外部設(shè)備位于測試序列的可選位置內(nèi)的信號。

    人體模型 (HBM):
    按照 ESDA/JEDEC JS-001-2012、MIL-STD 883E 和 AEC Q100-002 規(guī)定的 30V 到 8kV 測試標準。
    可在一套集成系統(tǒng)中進行符合多項行業(yè)標準的測試,無需更換或安排多個脈沖源。 

    機器模型 (MM):
    按照 ESDA STM5.2、JEDEC EIA/JESD22-A115 和 AEC Q100-003 規(guī)定的 30V 到 1kV 測試標準。
    靜態(tài)閂鎖測試采用的集成式脈沖源可快速執(zhí)行多點測試。

    靜態(tài)閂鎖測試:
    按照 JEDEC EIA/JESD 78 和 AEC Q100-004 測試標準??蛇x的靜態(tài)閂鎖測試允許使用嵌入的偏壓配件進行 DUT 管腳控制。 

    多達 4 個獨立的 V/I 配件:
    DUT 電源、曲線追蹤以及帶有 4 線矩陣傳感器的閂鎖測試激發(fā)源可實現(xiàn)高度。系統(tǒng)設(shè)計還具有高電流通過 V/I 結(jié)構(gòu)的功能。

    多個自測診斷程序:
    確保系統(tǒng)在包括測試用插座在內(nèi)的整個繼電器矩陣中的完整性。

    測試報告:
    預(yù)應(yīng)力、故障前 (ESD) 和故障后數(shù)據(jù)以及完整曲線追蹤和特定數(shù)據(jù)點的測量。數(shù)據(jù)可導(dǎo)出用于統(tǒng)計評估和演示。 

    不同的管腳參數(shù):
    方便用戶分別定義每個管腳的 V/I 水平、合規(guī)范圍和曲線追蹤參數(shù)。 

    其他特點:

    • 按照最新的 JEDEC EIA/JESD 78 測試方法提供可選的閂鎖測試

    • 使用繼電器矩陣提供高可重復(fù)性及可重現(xiàn)性測試數(shù)據(jù)

    • 允許從舊款 Thermo Scientific ESD 測試儀平臺導(dǎo)出現(xiàn)有的測試計劃和器件文件

    • 允許直接使用現(xiàn)有的 ZapMaster 測試固定裝置,并提供簡單的固定裝置轉(zhuǎn)換導(dǎo)入功能

    • 提供與 ZapMaster 測試系統(tǒng)類似的故障分析工具—可選的曲線比較/相對電流泄漏測量



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