室溫自動(dòng)探針臺(tái)
室溫環(huán)境下的自動(dòng)探針臺(tái),多用于晶圓的自動(dòng)測(cè)量。提供4寸至8寸的不同規(guī)格,4到8個(gè)...
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18502873311室溫環(huán)境下的自動(dòng)探針臺(tái),多用于晶圓的自動(dòng)測(cè)量。提供4寸至8寸的不同規(guī)格,4到8個(gè)...
AP200 用于4~8英寸半導(dǎo)體、集成電路、分立器件晶圓的全自動(dòng)探針測(cè)試。配備有...
應(yīng)用:PD/APD芯片IV及電容參數(shù)篩選測(cè)試。功能:Wafer Map圖描述:通...
應(yīng)用方向:PD/APD芯片參數(shù)篩選測(cè)試,GaAs射頻芯片S參數(shù)測(cè)試,MEMS晶圓...
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