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8英寸射頻測試探針臺MPS200T
  • 8英寸射頻測試探針臺MPS200T
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8英寸射頻測試探針臺MPS200T

應用方向：

主要用于GaAs射頻芯片S參數測試、GaN/SiC功率器件的IV參數測試、阻抗參數的測試測量等。

技術指標：

可測試Wafer尺寸：2英寸~8英寸
Chuck XY向行程：205mm*205mm
Chuck移動分辨率：旋鈕調節(jié)
Chuck旋轉范圍： ±10°微調

Chuck Z向接觸分離：1mm
Chuck 真空： 分三檔輸入
臺面Z向行程：3mm,接觸分離1mm
上下片方式：快速抽拉上下片
視頻顯示系統(tǒng)：體式顯微鏡加裝CCD


訂購熱線：18502873311
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