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Celestron? 靈活臺式 TLP/VF-TLP 測試系統(tǒng)
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Celestron? 靈活臺式 TLP/VF-TLP 測試系統(tǒng)

使用靈活的 TLP/VF-TLP 測試系統(tǒng)設(shè)計和開發(fā)能承受靜電放電 (ESD) 事件的半導體產(chǎn)品。Thermo Scientific? Celestron? 靈活臺式 TLP/VF-TLP 測試系統(tǒng)可在各種壓力源下對先進的半導體結(jié)構(gòu)進行可靠的特性描述。系統(tǒng)可針對傳輸線脈沖 (TLP)、極快速傳輸線脈沖 (VF?TLP)、人體模型靜電放電和機器模型靜電放電進行相應配置，以適用于硅片級和/或封裝級測試。選配的探針還可用于測定非被測管腳或非被測焊盤上的信號。

訂購熱線：18502873311
產(chǎn)品詳情

    Celestron 系統(tǒng)軟件在業(yè)內(nèi)屬于功能最全面的軟件。在測試運行期間，系統(tǒng)可顯示記錄的 TLP 脈沖電壓和電流波形、編制的脈沖 I-V 曲線、泄漏電流測量結(jié)果以及直流 I-V 曲線追蹤數(shù)據(jù)。操作員可選擇測試電壓（應力脈沖）的范圍、脈沖極性、漏電及曲線追蹤參數(shù)。也可在采集數(shù)據(jù)后選擇和修改 TLP 脈沖測量窗口的位置和持續(xù)時間。

    >硅片或封裝器件的 TLP 特性描述

    >基于 WINDOWS? 的集成式系統(tǒng)控制器

    >40A 容量的 TLP 脈沖發(fā)生器

    >標準 TLP - 100ns 脈沖持續(xù)時間

    >VF-TLP – 10ns 脈沖持續(xù)時間

    >持續(xù)時間可選，可同時選擇軟件和手動操作

    >脈沖上升時間可選，可同時選擇軟件和手動操作

    >提供多種測試模式，TDR-O、TDR-S、TDT、TDRT、 Hi-Z TDRT

    >適用于硅片級測試的開爾文測量 

    >集成式產(chǎn)生源及量測儀表單元適用于精細的直流 V/I 測量 

    >可選的偏壓配件（最多5組），可在電腦控制下進行偏壓電源測試和測量

    >可與半自動探針臺界面連結(jié)

    >先進且直觀的軟件用于系統(tǒng)控制和生成報告

    >占地面積較小的臺式

    >單一配置即可進行 TLP 和 VF-TLP 測試。



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