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18502873311測(cè)試管腳數(shù):256
測(cè)試適用范圍：
元器件測(cè)試-適用于多類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試
電路板測(cè)試-適用多種電路板的檢測(cè)（附加測(cè)試電纜線和多種封裝的測(cè)試夾）
測(cè)試原理（v-i曲線測(cè)試）：
對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖，以備對(duì)比和存儲(chǔ)。
被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì)，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。
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