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6英寸手動探針臺MPS150B
  • 6英寸手動探針臺MPS150B
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6英寸手動探針臺MPS150B

應(yīng)用方向：

MPS150B主要用于基本的MOSFET、CMOS片、GaN芯片、RF芯片、有機(jī)器件、OLED等的IV,CV,S阻抗參數(shù)測試測量。廣泛應(yīng)用于高校微電子教學(xué)及科研、實(shí)驗室芯片失效分析、材料器件測試。


訂購熱線：18502873311
產(chǎn)品詳情

    技術(shù)指標(biāo)：

    可測試Wafer尺寸：2英寸~6英寸
    Chuck XY向行程：160mm*160mm
    Chuck    移動分辨率：旋鈕調(diào)節(jié)
    Chuck旋轉(zhuǎn)范圍： ±5°微調(diào)，360°粗調(diào)
    Chuck Z向接觸分離：1mm
    Chuck     真空： 分三檔輸入
    臺面    Z向行程：30mm,接觸分離1mm
    上下片方式：快速抽拉上下片
    視頻顯示系統(tǒng)    ：體式顯微鏡加裝CCD


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