手動(dòng)探針臺(tái)MPS150
主要用于基本的MOSFET、CMOS片、GaN芯片、RF芯片、有機(jī)器件、OLED...
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18502873311MPS150SV是經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)解決方案,適合需要在短的時(shí)間內(nèi) 對(duì)半導(dǎo)體元器件及材料、晶圓片進(jìn)行IV/CV測(cè)試的用戶使用。結(jié)合半導(dǎo)體器件分析儀可作為實(shí)驗(yàn)室的器件分析測(cè)試平臺(tái)。
MPS150SV 探針臺(tái)為保護(hù)樣片測(cè)量周期內(nèi)高質(zhì)量的接觸,通過非常 穩(wěn)定的系統(tǒng)平臺(tái)設(shè)計(jì),完美的振動(dòng)隔離方案,能夠讓用戶取得想要 的測(cè)量精度。工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)探針座經(jīng)過優(yōu)化光學(xué)和無(wú)反向間隙X-Y-Z移 動(dòng),接觸分離驅(qū)動(dòng)達(dá)到1μm重復(fù)性,相對(duì)于半自動(dòng)探針臺(tái)探針座擺 放更加精密。高質(zhì)量的三同軸信號(hào)線纜保證測(cè)試特性電流達(dá)到fA級(jí)別低噪聲。
載片臺(tái)可提供加熱變溫選件,讓器件測(cè)試更加容易。載片臺(tái)XY移動(dòng)可單手調(diào)節(jié)操作, 高度平整的表面及可移動(dòng)性,讓初學(xué)者和用戶容易操作上手。
測(cè)試參數(shù):IV,CV,S參數(shù),阻抗參數(shù)
配合儀器:B1500A半導(dǎo)體器件分析儀,B2900A 源測(cè)量單元,E4980A LCR表,E5071C阻抗分析儀,N5245A矢網(wǎng)等
技術(shù)指標(biāo):
可測(cè)試Wafer尺寸:2英寸~6英寸
Chuck XY向行程:160mm*160mm
Chuck移動(dòng)分辨率:旋鈕調(diào)節(jié)
Chuck旋轉(zhuǎn)范圍: ±5°微調(diào),360°粗調(diào)
Chuck Z向接觸分離:1mm
Chuck 真空: 分三檔輸入
臺(tái)面Z向行程:10mm,接觸分離1mm
上下片方式:手動(dòng)旋鈕式
視頻顯示系統(tǒng):雙目體式顯微鏡標(biāo)配(45X)LED環(huán)形燈, 選配CCD工業(yè)相機(jī),實(shí)時(shí)芯片圖像
顯微鏡機(jī)構(gòu)調(diào)節(jié): XY向±25mm,Z向±35mm
遮光屏蔽罩:選配
探針:直流鎢針、射頻微波探針
探針座:精密千分尺結(jié)構(gòu),X,Y,Z三向可調(diào)節(jié),磁力座
外形尺寸:610mm×560mm×500mm(長(zhǎng)×寬×高)
設(shè)備重量: 約40 KG
使用環(huán)境:電源220VAC,功率0.05kW,真空-80kPa,環(huán)境溫度15oC~30oC,相對(duì)濕度<60%
主要用于基本的MOSFET、CMOS片、GaN芯片、RF芯片、有機(jī)器件、OLED...
產(chǎn)品描述: MPS200T 8英寸快速探針臺(tái)針對(duì)功率器件、光電器件、射頻器件晶圓...
應(yīng)用方向:主要用于GaAs射頻芯片S參數(shù)測(cè)試、GaN/SiC功率器件的IV參數(shù)測(cè)...
MPS150SV是經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)解決方案,適合需要在短的時(shí)間內(nèi) 對(duì)半導(dǎo)體元器件及材...