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半自動(dòng)探針臺(tái)APS2000H
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半自動(dòng)探針臺(tái)APS2000H

應(yīng)用方向：

PD/APD芯片參數(shù)篩選測試，GaAs射頻芯片S參數(shù)測試，MEMS晶圓管芯篩選測試等。

訂購熱線：18502873311
產(chǎn)品詳情

    技術(shù)指標(biāo)：

    l控溫范圍：-55°C~300°C 

    lWaferMap圖描述：實(shí)時(shí)掃描Wafer并對Die圖像對準(zhǔn) 

    lChuck控制：AutoMap軟件或經(jīng)典鍵盤多向操控Chuck移動(dòng) 

    lWafer圖形模式：圓形、陣列、環(huán)形、探邊多種形式式，可自定義學(xué)習(xí)模式。 

    lDie坐標(biāo)查詢：實(shí)時(shí)顯示更新Die相對坐標(biāo) 

    l打點(diǎn)方式：噴墨，離線打點(diǎn)、異步打點(diǎn) 

    l探邊功能：自動(dòng)探測Wafer邊緣并跳行 

    l測試接口：TTL電平、RS232、GPIB、以太網(wǎng) 

    l支持探針：直流鎢探針、RF探針、高壓探針，大電流探針 

    l支持儀器：B1505A,B1500A,E4980A, E5071C等

    售后小圖.jpg


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