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PD芯片測試專用探針臺APS1500PD
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PD芯片測試專用探針臺APS1500PD

應用：

PD/APD芯片IV及電容參數(shù)篩選測試。


功能：

Wafer Map圖描述：通過工業(yè)相機，采用圖像算法實時掃描WaferMap圖，并自動對Die進行對準識別扎針；

Chuck控制： AutoMap軟件和經(jīng)典鍵盤多向操控Chuck移動；

Wafer圖形模式：圓形、陣列、環(huán)形、探邊、自定義圖形模式；

打點方式：自動噴墨、離線打點、異步打點；

Die坐標查詢：實時顯示更新Die相對坐標；

測試接口：TTL電平、RS232、GPIB、以太網(wǎng)等多種接口；

數(shù)據(jù)報告：csv、html、excel、db等；

自動化軟件：ATE2000測試軟件、AutoMap探針臺軟件。

 

訂購熱線：18502873311
產(chǎn)品詳情

          配置：

          APS1500：高速6英寸半自動探針臺

          IV測試：2600B、B2900A系列SMU

          電容測試：E4980A、4284A

          激光光源：850nm，1310nm，1550nm可選

          SR-DT10：噴墨打點器，進口

          SR-L10：光纖耦合探針座

          SR-CCD：圖像采集套件，可實時觀察探針視頻圖像

    售后小圖.jpg 


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