PD芯片測試專用探針臺APS1500PD
應(yīng)用:PD/APD芯片IV及電容參數(shù)篩選測試。功能:Wafer Map圖描述:通...
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18502873311應(yīng)用:PD/APD芯片IV及電容參數(shù)篩選測試。功能:Wafer Map圖描述:通...
應(yīng)用方向:PD/APD芯片參數(shù)篩選測試,GaAs射頻芯片S參數(shù)測試,MEMS晶圓...
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MPS150SV是經(jīng)濟(jì)型探針臺解決方案,適合需要在短的時間內(nèi) 對半導(dǎo)體元器件及材...
技術(shù)指標(biāo): 可測試Wafer尺寸:2英寸~6英寸 變溫范圍:常溫~300℃Chu...
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